原子吸收光譜儀從光源輻射出具有待測(cè)元素特征譜線的光，通過(guò)試樣蒸氣時(shí)被蒸氣中待測(cè)元素基態(tài)原子所吸收，由輻射特征譜線光被減弱的程度來(lái)測(cè)定試樣中待測(cè)元素的含量?？蓽y(cè)定多種元素，火焰原子吸收光譜法可測(cè)到10-9g/mL數(shù)量級(jí)，石墨爐原子吸收法可測(cè)到10-13g/ml數(shù)量級(jí)。其氫化物發(fā)生器可對(duì)8種揮發(fā)性元素汞、砷、鉛、硒、錫、帝、錦、鍺等進(jìn)行微痕量測(cè)定。因原子吸收光譜儀的靈敏、準(zhǔn)確、簡(jiǎn)便等特點(diǎn)，現(xiàn)已廣泛用于冶金、地質(zhì)、采礦、石油、輕工、農(nóng)業(yè)、醫(yī)藥、衛(wèi)生、食品及環(huán)境監(jiān)測(cè)等方面的常量及微痕量元素分析。

 

 

　　原子吸收光譜儀測(cè)量時(shí)主要有哪些干擾因素？該如何消除？

　　干擾因素主要有：物理干擾、化學(xué)干擾、電離干擾。

　　1.物理干擾主要包括試液的粘度、溶劑的蒸氣壓、霧化氣體的壓力等。

　　消除方法：

　?。?）配制與被測(cè)試樣相似的標(biāo)準(zhǔn)樣品。

　?。?）在不知道試樣組成或無(wú)法匹配試樣時(shí)，可采用標(biāo)準(zhǔn)加入法或稀釋法來(lái)減小和消除物理干擾。

　　2.化學(xué)干擾是指待測(cè)元素與其它組分之間的化學(xué)作用所引起的干擾效應(yīng)，它主要影響待測(cè)元素的原子化效率，是原子吸收分光光度法中的主要干擾來(lái)源。

　　主要類(lèi)型有：

　　（1）待測(cè)元素與其共存物質(zhì)作用生成難揮發(fā)的化合物，致使參與吸收的基態(tài)原了減少。

　?。?）待測(cè)離了發(fā)生電離反應(yīng)，牛成離了，不產(chǎn)生吸收，總吸收強(qiáng)度減弱.電離電位≤6eV的元素易發(fā)生電離，火焰溫度越高，擾越嚴(yán)重，（如堿及堿上元素）。

　　消除方法：通過(guò)在標(biāo)準(zhǔn)溶液和試液中加入某種光譜化學(xué)緩沖劑來(lái)抑制或減少化學(xué)干擾，如加入釋放劑、保護(hù)劑、飽和劑、電離緩沖劑、基體改進(jìn)劑等，或者通過(guò)化學(xué)分離，如溶劑萃取、離了交換、沉淀分離等進(jìn)行消除。

　　3.電離干擾實(shí)質(zhì)在高溫下原子電離，使基態(tài)原子的濃度減少，引起原子吸收信號(hào)降低。電離效應(yīng)隨溫度升高、電離平衡常數(shù)增大而增大，隨被測(cè)元素濃度增高而減小。